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晶粒度等級(jí)_平均晶粒度_GB/T 6394-2017_隱石檢測(cè)

發(fā)布時(shí)間:2022-04-22 訪問(wèn)量:1194次 來(lái)源:隱石檢測(cè)

1. 檢測(cè)項(xiàng)目:平均晶粒度

2. 檢測(cè)目的:金屬材料常溫下,晶粒度越細(xì)小,材料的強(qiáng)度越高,韌性越好,因而通常情況下鋼類產(chǎn)品會(huì)對(duì)材料的晶粒度有一定的要求,晶粒度測(cè)試就有一定的必要性。

3. 針對(duì)產(chǎn)品:主要針對(duì)金屬材料(碳鋼、合金鋼、不銹鋼及鋁、銅等有色金屬)零部件

4. 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):GB/T 6394-2017ASTM E112-2013YS/T 347-2004GB/T 3246.2-2012

5. 項(xiàng)目注意事項(xiàng):測(cè)試前應(yīng)與客戶溝通試樣的材質(zhì)、熱處理狀態(tài)

6. 取樣要求:通常情況下晶粒度試樣取15*15*20mm較為適宜,測(cè)試面為橫向,也可根據(jù)實(shí)際情況取較小樣品或較大樣品。

晶粒度



相關(guān)標(biāo)簽: 金相分析 , 晶粒度檢測(cè) , 晶粒度等級(jí)

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